如今，人工智慧和自動駕駛等快速演進的應用對下一代IC的性能提出了更高需求，IC的設計規模正以前所未有的速度增長，將數十億顆電晶體整合於一身的積體電路已不再是空談。對IC工程團隊來說，大規模的IC設計和更高的複雜度意味著，測試這些IC設計所需的時間和成本都在急劇增加，同時，為每個設計規劃和部署DFT架構和功能所需的工作量也在增長。

為了協助晶片測試團隊因應這些挑戰，Mentor, a Siemens business為其Tessent™TestKompress™軟體推出了Tessent™ Streaming Scan Network技術。此解決方案包括嵌入式基礎架構和自動化功能，可把模塊級DFT需求從頂層可利用的測試資源中獨立開來，實現無需妥協的層次化DFT流程，大幅簡化DFT的規劃和建置，同時將測試時間縮短4倍。此方案還完全支援區塊（tiled）設計，並針對相同內核進行了設計優化，是新興運算架構的理想選擇。

Mentor Tessent矽晶生命週期解決方案副總裁暨總經理Brady Benware表示：「由於設計規模、先進技術節點和使用模型要求的持續增加，IC測試的複雜度也在大幅上升，這為IC設計團隊帶來了嚴苛挑戰。借助於新的Tessent Streaming Scan Network，我們的客戶可以減少測試建置的工作量，降低製造測試成本，為未來的設計做好準備。」

Tessent Streaming Scan Network軟體採用以匯流排為基礎的掃描數據分配架構，可同時測試任意數量的核心，進行高速的數據分配，有效處理核心之間的不平衡，並以固定成本測試任意數量的相同核心，從而實現測試時間的大幅縮短。該技術還在每個核心中提供了一個隨插即用的介面，可以簡化掃描的時序收斂，非常適用於相鄰的區塊。

該解決方案是由每個設計模組中的一系列主（host）節點相互連接而組成。每個主節點會在模組中的網路和測試結構之間分配數據。此軟體可自動執行建置、測試向量產生和故障反向映射過程。DFT工程師可充分優化每個模組的DFT測試資源，無需擔心對設計的其他部分造成影響，這將有助於減少建置的工作量。同時，此解決方案還透過對相同核心的優化處理、消除測試數據的浪費、以及時分復用技術（time multiplexing），顯著降低測試數據的數量，有效減少測試時間。

三星電子設計技術團隊副總裁Sangyun Kim表示：「透過在Tessent TestKompress中增加Tessent Streaming Scan Network技術，我們能為客戶提供可擴充的測試接入解決方案，不論是當今還是未來的先進IC設計均可適用。Tessent Streaming Scan Network無需很高的工作量，便能使複雜設計具備高度的可測試性。」

在Tessent TestKompress產品中增加Tessent Streaming Scan Network功能，是Mentor在先進階層式DFT建置和測試數據頻寬管理領域累積了十多年的研發成果，Mentor與多家領先的半導體製造商合作開發了此項技術。

Tessent Streaming Scan Network可與其他的Tessent DFT產品完全相容，並與Tessent Diagnosis具單元感知和佈局感知的診斷相結合，以提供端到端的缺陷偵測和診斷解決方案。Tessent DFT的所有產品均屬於Tessent Safe生態系統，並具有一整套通過認證的ISO 26262檔檔案，可用於所有的ASIL ISO 26262專案。